接触电阻对传感器采样影响分析

作者:何雨昂; 徐志书; 龙海峰; 桑庆宏; 樊茜
来源:电子技术与软件工程, 2018, (23): 234-235.

摘要

本文分析了在工程应用中多余物对产品可靠性的影响,同时解释了该现象产生的原因;说明了一种多余物引入导致电子产品在特殊条件下发生故障的方式。

  • 单位
    北京精密机电控制设备研究所