基于故障树的接口模块Flash测试方法改进研究

作者：花文波; 曹兴冈; 孙友涛

来源：电子测试, 2020, (05): 107-109.

DOI：10.16520/j.cnki.1000-8519.2020.05.036

• 故障树
• 分析
• 测试方法

故障树分析法是一种系统、可靠、逻辑性强的分析方法。分析接口模块硬件结构,建立UserFlash测试故障树模型、对故障分支进行分析,查明测试报故的原因,通过机理分析,改进Flash测试方法并进行验证。结果表明,改进后的测试方法能有效提高测试通过率和延长芯片使用寿命,具有很强的工程应用价值。