沉默BLAP75基因对电离辐射诱导DNA损伤的影响

作者：徐畅; 方连英; 孔阳阳; 王璐; 杜利清; 王彦; 王芹; 刘强

来源：国际放射医学核医学杂志, 2016, 40(04): 244-248.

DOI：10.3760/cma.j.issn.1673-4114.2016.04.001

• 基因沉默
• BLAP75
• 辐射,电离
• RNA干扰

目的研究BLM结合蛋白75(BLAP75)在电离辐射诱导DNA损伤反应中的生物学效应。方法运用RNA干扰技术,在细胞中特异性沉默BLAP75基因,然后通过单细胞凝胶电泳技术来研究电离辐射诱导DNA损伤程度的变化,并且通过再次表达BLAP75来拯救沉默BLAP75所致的实验表型,以及应用Western blot方法研究DNA损伤反应中的磷酸化修饰。结果与未转染的293T对照组细胞相比,电离辐射在沉默了BLAP75基因的细胞中会诱导更多的DNA断裂,并且在此细胞中重新表达BLAP75则能降低DNA断裂数量至对照组细胞水平;y射线照射后,细胞周期检查点激酶2(Chk2)的磷酸化程度比阴性对照组细胞增强。结论 BLAP75能减少电离辐射诱导的DNA损伤,在电离辐射损伤修复中可能具有重要作用。

• 单位
  中国医学科学院; 放射医学研究所