探析痕量硫的X射线荧光光谱法测定

作者：沈春春

来源：化工时刊, 2016, 30(05): 29-31.

DOI：10.16597/j.cnki.issn.1002-154x.2016.05.009

• X射线荧光光谱
• 粉末压片
• 矿物效应
• 硫

S的校准曲线的离散性较大,矿物学效应是影响S分析准确度的主要因素,本文在前人研究基础上,采用XRF仪器,运用粉末压片技术制备样品,采用水系沉积物、岩石和土壤等国家一级标准物质进行校准,方法检出限为1.36μg/g,相对标准偏差为0.97%3.2%(RSD,n=10),校准曲线准确度为0.005 8%,测量值与认定值比较吻合。S存在分析结果随测量时间(次数)的增加而增高的现象,必须在制样后立即测量。

• 单位
  广东省核工业地质局二九二大队; 中心实验室