基于ATE的USB PD快充协议芯片晶圆测试

作者：唐彩彬

来源：电子与封装, 2022, 22(03): 33-37.

DOI：10.16257/j.cnki.1681-1070.2022.0306

• ATE
• Chroma 3380P
• USB PD
• 晶圆测试

介绍了一款USB功率传输（Power Delivery, PD）快充协议芯片的晶圆测试方法。基于Chroma 3380P测试系统，通过对USB PD快充协议芯片测试要求进行分析，设计了双site并行测试外围电路，实现了对该USB PD快充协议芯片的主要功能与性能参数测试。该方案能够作为通用测试方法供USB PD快充协议芯片测试设计参考。