基于TRIZ的薄片介质属性鉴别技术研究

作者:张承业; 黎明; 张宪民; 陈光
来源:机电信息, 2018, (18): 111-112.
DOI:10.19514/j.cnki.cn32-1628/tm.2018.18.055

摘要

以培养创新人才、打造创新研发流程、提高自主创新能力为宗旨,针对薄片介质厚度检测中的技术难点,形成基于TRIZ功能分析的创新原理解构建方法。从理想解的角度提出项目问题的解决方案,降低工程技术实现的人为设限和约束,提升方案创新的实用性。

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