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摘要
高纯氧化镁产品纯度达到99.9%,杂质硅含量是评价高纯氧化镁产品等级的重要指标之一,对其进行准确测定显得尤为重要。常规的标准曲线法无法克服镁的基体效应,国内同行常规使用基体匹配法来克服基体效应,但是难以找到含杂元素与高纯氧化镁产品相近且纯度更高的金属镁。采用标准加入法作为技术手段,优点是非常适合高镁基体浓度中(超)痕量元素的分析,准确度高。本研究以盐酸溶解样品,以标准加入法为技术手段,采用电感耦合等离子体发射光谱技术,建立了一种简单、快速、准确的测定方法。该方法在分析谱线251.611 nm处,有良好的线性关系,方法的检出限为0.018 3 μg/mL,测定下限为0.061 0 μg/mL。在实际高纯氧化镁产品测试中,加标回收率在97.86%～103.80%之间,适合高纯氧化镁产品中酸溶硅的测定,为解决盐湖化工企业氧化镁产品中酸溶硅含量的测定提供了技术支撑。
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单位青海省有色矿产资源工程技术研究中心; 西部矿业集团科技发展有限公司; 青海省高原矿物加工工程与综合利用重点实验室; 青海西部矿业工程技术研究有限公司; 西安建筑科技大学
