基于单元分类的CMOL常开缺陷单元容错映射

作者：顾贤贵; 夏银水^*

来源：宁波大学学报(理工版), 2020, 33(01): 51-57.

• CMOL
• 进化算法
• 单元容错映射

CMOS纳米分子混合电路(CMOS/nanowire/MOLeclular hybrid circuits, CMOL)在制造过程中会引入较高缺陷率,从而导致可用映射资源的减少.针对由此产生的映射困难问题,本文采用单元分类思想,对部分缺陷单元加以利用,以增加可映射单元数,进而提高映射成功率.首先根据单元缺陷类型的差异,将缺陷单元分为可用和不可用两类进行标记,然后对可用缺陷单元加以利用,并采用改进的进化算法完成单元容错映射.实验结果表明,与已有方法相比,新方法在运行效率和成功率上分别得到了19.17%和30.14%的提升.

• 单位
  宁波大学