摘要

介电常数(D——k)一直都是电路基材的重要指标。近年很多基材厂商开始提出设计Dk的概念,其目的在于通过前期的测试手段直接得到后期终端可以直接使用的Dk结果。本文基于点频方案和扫频方案,考察验证了谐振环和差分相位两种设计Dk的实验方案,并比较了这两种设计Dk考察方案的实际效果。