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摘要
随着5G物联网的蓬勃发展,基于MEMS传感器等应用的模拟前端电路对噪声要求水平越来越高,其中对于低频应用,低频闪烁(1/f)噪声往往成为系统性能瓶颈。而对于u V甚至n V级别的噪声信号,如何准确地进行测试评估,也需要投入大量的资源进行研究分析。本文基于华润上华流片的两款IP以及TI的两款电源芯片,采用不同的平台进行噪声测试对比分析,最终取得了可靠的低频噪声测试解决方案。
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单位上海贝岭股份有限公司; 无锡华润上华科技有限公司
