TO塑封电阻器主要用于耗散脉冲能量，其可靠性的高低会影响电子系统的稳定运行。根据TO247和TO263两种典型封装结构建立了过载时等效电阻模型，通过采用低温或中温包封浆料与硅胶等材料，制备了四种保护层结构，并对1～1 000Ω的典型阻值进行直流过载试验。研究结果表明：当施加电压约为1.5倍额定电压时，保护层结构为中温包封层和硅胶层的电阻器过载后变为开路失效模式，其可靠性优于其他三种产生短路失效模式的电阻器，理论模型推导与试验结果一致。该研究对TO功率器件的制造和应用具有一定的指导意义。
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