一种分析二维平面左手结构的新方法

作者：李超; 刘开雨; 李芳

来源：电子学报, 2007, (12): 2262-2266.

• 二维平面左手结构
• S参数
• Bloch波数
• Bloch阻抗
• 后向波 planar 2-D left-handed structures
• S parameters
• Bloch wave number
• Bloch impedance
• backward wave

本文提出了一种基于单元结构的四端口网络S参数和周期性结构的Bloch理论来分析二维平面分布参数左手结构的新方法,以及基于Bloch波数和Bloch阻抗来判断左右手特性频带的新方法.与以往的单元结构分析方法相比,本文方法有利于单元结构的灵活设计,能较好地考虑分布参数元件色散特性,能简便准确地判断出左右手特性频带,且能用于分析各向异性和有损耗结构.作为例子,我们设计了一种串联电容增强型平面左手结构,并用本文方法进行分析,清楚地得到了该结构的左右手特性频带.本文还采用时域有限差分方法(FDTD)对这种新型平面结构阵列进行模拟,在左手特性频带内得到了后向波传播特性,从而验证了本文方法的有效性.

• 单位
  中国科学院; 中国科学院电子学研究所