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摘要
目的:研究插值对二维电离室矩阵调强验证Gamma通过率的影响。材料和方法:使用IBA二维电离室矩阵对8例调强计划56个射野进行验证。验证中分别使用矩阵固有间隔、线性1 mm间隔插值、三次样条函数1 mm和2 mm间隔插值将测量结果和计划输出进行Gamma分析。比较不同插值方法对3 mm,3%标准Gamma分析的影响。结果:本研究中,电离室矩阵固有间隔(无插值)的Gamma通过率最高,进行样条函数插值后的通过率其次,进行线性插值后的验证通过率最低。结果具有统计学意义(P<0.01)。样条函数插值间隔对Gamma通过率的影响无统计差异。结论:插值后调强验证的Gamma通过率将显著下降,不同插值方法...
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单位复旦大学附属中山医院
