交流电晕老化对复合绝缘子体积电阻率-温度特性的影响

作者：梁英; 张君成; 靳哲

来源：高电压技术, 2016, 42(12): 3875-3880.

DOI：10.13336/j.1003-6520.hve.20161128022

• 硅橡胶
• 复合绝缘子
• 体积电阻率-温度
• 交流电晕老化
• 线性相关度
• FTIR
• XPS

硅橡胶材料作为复合绝缘子外绝缘基材,其体积电阻率和温度之间存在一定关系,老化可能会对这一特性产生影响。为此以硅橡胶基材作为研究对象,对试样进行不同时间的交流电晕老化,并利用研制的体积电阻率测试系统进行不同温度下的体积电阻率测试。同时结合傅里叶红外光谱(FTIR)和X射线光电子能谱(XPS)分析,探究了交流电晕老化对复合绝缘子的体积电阻率-温度特性(Tv?1ln?)的影响,并以此定性评估试样受电晕老化程度。试验结果表明:随着交流电晕老化时间的增加,复合绝缘子材料的Tv?1ln?线性相关度逐渐降低,且低温区域范围内(293313 K)此种变化更为显著,所受电晕老化程度加深;交流电晕作用导致材料表层Si—O键小分子的大量生成,对内层也产生一定程度破坏,这些小分子影响了低温区段下材料的体积电阻率特性;随着温度的升高,高分子链段运动加剧且材料内部运动空间扩大使得高分子作用重新主导导电机理,线性关系恢复。

• 单位
  新能源电力系统国家重点实验室; 华北电力大学