一种高效测试交流参数的方法研究

作者：赵桦; 章慧彬

来源：电子与封装, 2019, 19(10): 17-19.

DOI：10.16257/j.cnki.1681-1070.2019.1005

• 测试技术
• 测试机台
• 时间测试单元

随着科学技术的快速发展,集成电路都朝着高速、高精度方向发展,对保障电路质量的电路测试的速度和精度也提出了新的要求,尤其在交流参数测试方面要求也越来越高。为了实现比传统的测试方式更加快速准确的交流参数测试,利用V93000集成电路测试系统,通过对Smart Scale卡上pin脚通道的时间测试单元(TMU)进行编程控制,即可达到目标。