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摘要
SF6断路器关合操作时产生的关合涌流对弧触头会造成严重的侵蚀。为了研究弧触头在不同关合速度下的侵蚀情况，文中设计了模拟的SF6断路器灭弧室，对CuW弧触头进行了不同关合速度下的关合侵蚀实验并对不同关合速度下的弧触头受力分析进行了仿真。研究发现每焦耳的质量侵蚀率并不是随着电弧能量单调增加的，4号触头的电弧能量最小，但是质量损失率却高达40 mg·kJ-1。在相同电流下随着关合速度的增加，虽然燃弧时间和电弧能量会变小，但是弧触头的受力会随着关合速度的增加而增加，摩擦磨损侵蚀会变大，从而每千焦的质量损失率会增大。文中的研究结果对触头关合侵蚀电寿命的分析具有一定的指导意义。
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