摘要

提出一种基于维纳过程的可靠性评估方法。根据产品的退化数据建立基于维纳过程的退化模型,进而采用Bootstrap方法来提高小样本情况下退化参数的估计精度,最后,对退化过程首达时的分析来获得产品的寿命分布。通过对GaAs激光器的退化数据进行可靠性评估和寿命预测,结果表明该方法相比现有方法更符合实际。