本发明公开了一种基于自编码器和集成学习的SMT生产追溯方法,本发明具体步骤如下:(1)构建自编码器;(2)获取SPI缺陷追溯数据集;(3)对SPI缺陷追溯数据集进行归一化处理;(4)训练自编码器;(5)使用集成学习方法获得分类树集合;(6)获得SPI生产追溯序列。本发明将归一化后的SPI缺陷追溯数据集输入到训练好的自编码器,生成分类数据集,使用集成学习的方法训练分类树,遍历训练好的分类树,获得SMT生产追溯序列,定位导致产品缺陷的关键因素,提升了SMT生产追溯的准确率。