基于弱磁信号的磁性纳米粒子质量检测方法

作者：惠延波; 毛志鑫; 牛群峰; 王莉

来源：电脑知识与技术, 2020, 16(14): 23-51.

DOI：10.14004/j.cnki.ckt.2020.1479

• 磁性纳米粒子
• 质量检测
• 弱磁检测
• 激励磁场
• 亥姆霍兹线圈

为了研究磁性纳米粒子质量与磁通密度的关系,提出了一种基于弱磁信号的磁性纳米粒子质量检测方法。选择亥姆霍兹线圈作为激励源,将磁性纳米粒子溶液放入恒定磁场中,磁性纳米粒子在激励磁场的作用下产生响应磁场。为避免受到激励磁场的影响,对响应磁场的单轴分量进行测量,经过分析得出不同磁性纳米粒子质量下磁通密度的变化规律,最终得出磁性纳米粒子质量与其产生的磁通密度之间的关系函数。结果表明,随着磁性纳米粒子质量的增多,其产生的磁通密度也随之增大,两者之间呈线性正相关函数关系。

• 单位
  河南工业大学; 机电工程学院