登录
免费注册
首页
论文
论文详情
赞
收藏
引用
分享
科研之友
微信
新浪微博
Facebook
分享链接
浅论气体压强对金刚石薄膜质量的影响
作者:孙鑫; 丁喜峰; 王文静
来源:
中国新技术新产品
, 2013, (12): 55-56.
DOI:10.13612/j.cnki.cntp.2013.12.077
金刚石(薄膜)
MPCVD
气体压强
Raman光谱
摘要
以甲烷、氢气做为气源,利用微波等离子气相沉积的方法在硅片上沉积金刚石薄膜。研究了不同压强对金刚石薄膜质量的影响。结果表明当气氛压强为9KPa时可获得高质量的金刚石薄膜。
单位
燕山大学
全文
全文
访问全文
相似论文
引用论文
参考文献