WDXRF法测定U-Mo合金中Mo含量

作者:余春荣; 张连平; 赵建龙; 姚洪敏; 王怀胜; 何伟波*
来源:核电子学与探测技术, 2021, 41(01): 68-71.

摘要

介绍了波长色散型X射线荧光光谱法(Wavelength Dispersive X-Ray Fluorescence,WDXRF)测定U-Mo合金中Mo含量的分析方法。本方法用HNO3溶解样品,制成滤纸片试样,采用WDXRF光谱仪测定U-Mo合金试样的Mo含量。实验结果表明:本方法适用于Mo含量为1%~6%的U-Mo合金样品的Mo含量测定;对Mo含量为2%的样品,测量结果的相对标准偏差为0.3%;Mo含量为6%的样品,测量结果的相对标准偏差为0.2%。