能量色散X射线荧光光谱仪在钼矿选矿流程中的应用

作者：张敏; 李小莉

来源：冶金分析, 2016, 36(03): 54-58.

DOI：10.13228/j.boyuan.issn1000-7571.009664

• 能量色散X射线荧光光谱法
• 尾矿
• 原矿
• 钼粗精矿

通过使用能量色散X射线荧光光谱仪对钼矿含量进行分析,建立了快速测定钼矿选矿过程中的尾矿、原矿和钼粗精矿样品中Mo、Pb、Cu、Fe、S、K等6种元素的分析方法。由于钼矿石标准样品较少,因此实验选用钼矿选矿中不同阶段具有一定含量梯度的多个经湿法准确定值后的实际样品作为校准样品绘制校准曲线,同时采用经验系数法及散射线内标法来校正元素之间的影响,从而降低了基体效应和谱线重叠的干扰。各组分校准曲线的相关系数为0.999 31.000 0,各元素的检出限在310μg/g之间。对钼矿样品进行精密度考察,各组分测定结果的相对标准偏差(RSD,n=9)在0.22%3.7%之间;对钼矿样品进行正确度考察,测定值与湿法值一致。

• 单位
  天津地质矿产研究所; 金堆城钼业集团有限公司