提出一种电子产品在多应力综合环境下的寿命预测方法,该方法充分考虑了电子产品的多应力综合使用环境、故障模式以及故障机理的累积与竞争关系。通过单应力仿真分析和多应力累积损伤分析,结合理论模型和仿真分析结果完成了产品的寿命预测。通过对某典型产品的寿命预测,证明该方法具有很强的工程实用性。
科研之友
微信
新浪微博
Facebook
分享链接
