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摘要
利用能量色散X射线荧光(EDXRF)探针,对一批金元时期的钧瓷样品进行了线扫描分析,以研究钧瓷胎釉间薄层物质的性质及其它相关问题.结果显示,胎釉间薄层物质的化学组成介于胎釉之间,因此其应为在烧制过程中形成的反应层.分析还发现,反应层中的K2O含量高于瓷釉和瓷胎,与其它氧化物均有不同.推断反应层中K2O含量高的现象,是瓷釉和反应层中特定的SiO2和Al2O3组成,硅酸盐玻璃的特定网络结构,以及SiO2,Al2O3及K2O在玻璃体中的作用和特性等因素的综合作用结果,而非单纯的K+具有较强的渗透能力所致.
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