一种基于JTAG的嵌入式微处理器片上可调试系统

作者：张伟; 李兆麟; 张闯; 汪东升

来源：计算机工程与应用, 2004, 40(12): 1-4+51.

DOI：10.3321/j.issn:1002-8331.2004.12.001

• 嵌入式微处理器
• 片上可调试系统
• JTAG

文章提出了一种基于JTAG的嵌入式微处理器片上的可调试系统。该系统在JTAG工业标准的基础上,能够以较少的硬件开销支持指令/数据断点设置、单步执行、寄存器内容查看和设置、内存内容查看和设置、在线编程以及微处理器运行现场设置等调试功能。文章首先介绍了嵌入式微处理器可调试设计的原理,其次介绍了嵌入式微处理器的调试系统设计,最后给出调试实例分析。

• 单位
  清华大学