摘要
纳米线(管)的模板合成和导电原子力显微镜(C鄄AFM)结合是一种近期发展起来研究单根一维纳米结构及阵列导电性的有效方法.本文利用C鄄AFM测量了阳极氧化铝(AAO)模板电化学合成制备的单根聚苯胺纳米线的电导率,研究了直径、氧化还原态对单根聚苯胺纳米线电导率的影响.从I-V曲线可以看到,其导电性质与半导体类似,但又不同于半导体.尚未观察到反向击穿现象,可能原因是,在一定的反向偏压下的离子脱嵌使得它由部分氧化态(导电态)转变为还原态(绝缘态);电导率随纳米线直径减小而线性地增加;以ClO-4离子掺杂的氧化态和还原态比部分氧化态的电导率低二个数量级.
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单位理化学研究所; 厦门大学; 固体表面物理化学国家重点实验室; 化学化工学院