Flash存储器抗60Co γ射线总剂量能力的分析

作者：刘远飞; 刘海涛; 李鹏程

来源：半导体技术, 2018, 43(06): 468-472.

DOI：10.13290/j.cnki.bdtjs.2018.06.011

• Flash存储器
• 总剂量
• 故障分析
• 数据保持性能
• 抗辐照能力

为了比对分析多家厂商生产的NAND型Flash存储器的抗辐照能力和数据保持能力,选择了3种规格(代号为A,B和C)的商业级Flash存储器作为研究对象,设计了故障测试算法,研究了3种Flash存储器的抗60Coγ射线总剂量的能力。首先研究了存储器经常出现的各种故障模型,并设计了相应的故障测试算法;其次搭建了以数字信号处理器(DSP)为核心的硬件测试电路;最后以60Coγ射线作为器件的辐照源,利用设计好的故障测试算法对辐照环境下的Flash存储器在总剂量值每增加10 krad(Si)后进行一次故障检测。结果显示,B和C器件在总剂量值达到20 krad(Si)时开始出现故障,40 krad(Si)时出现数据的0→1翻转,70 krad(Si)时翻转率高于2%;A器件在40 krad(Si)时开始出现故障,70 krad(Si)时出现0→1翻转,翻转率为0.6%。从抗辐照能力和数据保持能力两个角度观察认为,商业级的A器件要优于B和C器件。

• 单位
  北京遥测技术研究所