摘要
使用溶胶-凝胶法制备了Eu掺杂SiO2(Euxn+∶SiO2)薄膜,Eu与SiO2的物质的量比分别为5%、10%、15%和20%。利用X射线衍射仪(XRD)、傅里叶红外光谱仪(FT-IR)、显微维氏硬度计、万能试验机以及接触角测量仪等研究了薄膜结构及其性能。研究结果表明,Eu掺杂使SiO2薄膜更容易析晶; Eu掺杂可以提高SiO2薄膜的透过率,提高基体的硬度并改善其弯曲强度,同时,Eu掺杂还能进一步提高薄膜的亲水性。但Eu掺杂量过高时(Eu与SiO2的物质的量比大于10%),薄膜的强度有所下降,脆性增加,对基体薄膜性能产生不利影响。
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