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摘要
为了提高珍珠珠宝检验的性能,对View X珠层测厚仪进行校验,提高珍珠珠层无损测厚检测的规范性和准确性,提出一种基于X射线的珍珠珠层无损测厚技术,采用X射线仪器进行珍珠珠层的厚度测量,采用高分辨的X射线扫描技术对珠层的均匀分布的多点进行逐点扫描,结合自回归分析方法对测量值取均值,用3D法和微镜检测相结合的方法对珠层与珠核分界线进行自动检测,采用随机抽取方法对珠层与珠核的分界线分辨力进行描述性统计分析,建立测珠层不确定度测量模型和X光机示值误差校准模型,根据数据统计分析结果,提出方法实现珍珠珠层无损厚度检测。测试结果表明,采用该方法进行珍珠珠层测厚的准确性较好,对珍珠样品的珠层厚度测量分辨能力较强,检测准确可靠。
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