AgOx薄膜的形貌、光谱以及激光烧蚀研究(英文)

作者：秦连杰; 王卓; 贾玉光; 徐惠忠; 王广东

来源：功能材料, 2006, (01): 139-142.

• 氧化银薄膜
• 激光烧蚀
• 半导体
• 金属纳米粒子 silver oxide thin films
• laser ablation
• semiconductor
• metal nanoparticles

制备了不同氧分压比的AgOx薄膜,对其进行了原子力(AFM)形貌观察,发现分压比0.4时,薄膜的粗糙度最小,均匀性也最好。光谱性质表明:随着分压比的增加,存在着金属向半导体的转变;经过热处理后的共振吸收峰和扫描电(SEM)表明了金属银粒子的析出。不同激光功率下的烧蚀实验表明:在激光照射下存在着两记录(烧蚀)形态,一种是银粒子散布在其间的气泡型;另一种是形成中间烧蚀孔,银粒子在孔附近密集的破裂气泡型。

• 单位
  晶体材料国家重点实验室; 烟台大学; 山东大学