一种ECC校验算法的设计与实现

作者：刘梦影; 蔡阳阳

来源：电子与封装, 2020, 20(02): 34-39.

DOI：10.16257/j.cnki.1681-1070.2020.0207

• 电可擦除可编程存储器
• 纠错码
• 串行外设接口

电可擦除可编程存储器(EEPROM)由于工艺结构的局限性而导致数据在存储过程中存在小概率的位反转问题。为解决该现象,设计了基于汉明码的纠错码(ECC)校验系统。结合EEPROM的结构特点和数据存储模式,该系统包含ECC校验码计算模块和数据检错纠错模块,每32 bit数据生成6 bit ECC校验码,具有1 bit/32 bit的纠错力。采用硬件描述语言Verilog HDL设计并实现了该ECC验证系统,并将其应用于基于串行外设接口(SPI)的EEPROM。仿真结果表明ECC验证系统可以保证数据的正确率,提高存储系统的可靠性。