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摘要
热辅助光诱导衰减（LeTID）作为一种不可忽视的太阳电池效率衰减现象，其衰减机制和相关缺陷形态的演变过程亟需澄清。针对p型多晶硅钝化发射极局域接触（PERC）太阳电池，研究在不同光照强度下的衰减规律，光照促进了衰减-再生反应的进行，衰减程度随光照强度减小而增大。对衰减起主导作用的是由LeTID过程中产生的体内深能级缺陷导致的SRH复合，该缺陷中心的电子与空穴俘获截面之比k值在33～37范围内，而对衰减影响较小的浅能级缺陷可能是k值在0.1～1.0之间的Fe—B复合物。
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单位中国科学院; 中国科学院电工研究所; 中国科学院大学
