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摘要
针对检测缺陷的测试数据生成效率低下问题，提出变异测试和路径覆盖测试技术结合的测试数据生成方法。首先，采用变异测试技术生成的变异分支融入程序，生成新的被测程序；然后，在原路径集中挑选目标路径，通过分析变异分支与路径关联关系，将变异分支融入路径。最后，基于遗传算法生成覆盖路径的测试数据。实验结果表明，多种群遗传算法生成测试数据的时间，比单种群遗传算法节约了41.15%。由此可见，对于覆盖多路径测试数据生成，多种群遗传算法的效率比单种群遗传算法高。
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单位徐州工程学院
