A_3BGa_3Si_2O_(14)晶体的结构、光学性质的系统研究

作者：王增梅; 袁多荣; 石绪忠; 程秀凤; 许东; 吕孟凯

来源：压电与声光, 2005, (03): 280-282.

• 提拉法
• 结构
• X-射线粉末衍射
• 透过谱 Czochralski technique
• structure
• X-ray powder diffraction
• transmittance properties

用提拉法成功地生长了具有La3Ga5SiO14(LGS)结构的A3BGa3Si2O14(A=Ca,Sr;B=Nb,Ta)系列单晶;用X-射线粉末衍射证明了其单晶结构,并在200～3200nm间测其透过谱。