全谱直流电弧发射光谱法同时测定钨中19种杂质元素

作者：吴冬梅; 赵燕秋; 付国余

来源：中国钨业, 2019, 34(03): 60-64.

• 全谱直流电弧发射光谱法
• 钨
• 光谱缓冲剂
• 分段采集
• 杂质元素

为了解决现有测定方法中样品前处理复杂、测定过程烦琐的问题,实验研究了全谱交直流电弧发射光谱仪测定钨中Al、As、Bi、Ca、Cd、Co、Cr、Cu、Fe、Mg、Mn、Mo、Ni、Pb、Sb、Si、Sn、Ti、V共19种杂质元素的方法。用石墨粉、碳酸锂、氧化镓作为光谱缓冲剂,抑制基体蒸发、稳定弧焰、促进杂质元素的蒸发;采用样品装满电极后下压,滴加蔗糖溶液的方式,防止喷溅的发生,稳定激发过程;对挥发难易程度不同的元素采用信号分段采集的方式,提高各元素信噪比。该方法灵敏度高、分析速度快、操作简便,加标回收率为88%～120%,各元素分析相对标准偏差均小于10%。