基于V93000的SoC中端口非测试复用的ADC和DAC IP核性能测试方案

作者：裴颂伟; 李兆麟; 李圣龙; 魏少军

来源：电子学报, 2013, (07): 1358-1364.

• 片上系统
• 模数转换器
• 数模转换器
• V93000测试仪
• 性能参数 System-on-a-Chip
• ADC
• DAC
• V93000 ATE
• performance parameter

SoC(System-on-a-Chip)芯片设计中,由于芯片测试引脚数目的限制以及基于芯片性能的考虑,通常有一些端口不能进行测试复用的IP(Intellectual Property)核将不可避免地被集成在SoC芯片当中.对于端口非测试复用IP核,由于其端口不能被直接连接到ATE(Automatic Test Equipment)设备的测试通道上,由此,对端口非测试复用IP核的测试将是对SoC芯片进行测试的一个重要挑战.在本文当中,我们分别提出了一种基于V93000测试仪对端口非测试复用ADC(Analog-to-Digital Converter)以及DAC(Digita-l to-Ana...

• 单位
  清华大学