粉状石墨的X射线线形分析

作者：徐跃; 朱涛; 郝兆印

来源：金刚石与磨料磨具工程, 2004, (02): 75-77.

DOI：10.13394/j.cnki.jgszz.2004.02.022

• X射线线形分析
• 粉状石墨
• 微观应变 X ray diffraction line profile analysis
• powdered graphite
• distortion

采用X射线线形分析方法对经过两种不同化学方法和石墨化温度 (2 770K)处理的 4个粉状石墨 (1# 至 4# )试样进行了分析计算 ,计算结果显示这 4个粉状石墨试样的晶粒尺寸基本保持不变 ,微观应变增加 ,位错密度减小。对石墨化过程结构的变化机制进行了分析。

• 单位
  吉林大学; 超分子结构与材料国家重点实验室; 超硬材料国家重点实验室