LDO芯片CP通用测试方法研究

作者：唐彩彬; 张凯虹

来源：电子与封装, 2017, 17(11): 15-18.

DOI：10.16257/j.cnki.1681-1070.2017.0129

• LDO
• CTA8280
• CP
• 熔丝

介绍了LDO(线性稳压器)的通用测试方法。基于长川CTA8280测试系统,通过对芯片CP(圆测试)要求进行分析,设计了某款LDO芯片的测试外围,实现了对该LDO芯片功能与性能的测试。该方案能够作为通用测试方法供LDO芯片测试设计参考。

• 单位
  中国电子科技集团公司第五十八研究所