基于RT-Thread操作系统的LPDDR4芯片测试系统设计

作者：陈鑫旺; 马茂松; 刘建斌

来源：数字通信世界, 2020, (10): 18-20.

• 芯片测试
• RT-Thread
• LPDDR4

针对LPDDR4芯片系统测试的实际需求,提出了一种LPDDR4芯片在不同SoC系统上测试的方案。该方案在STM32单片机上运行国产开源嵌入式实时操作系统RT-Thread,控制LPDDR4芯片的供电电压按照测试需求进行变化,不仅提升了用户体验,还能节约芯片测试板卡成本。