一种用于高速高精度A/D转换器的自举采样电路

作者：王磊; 尹文婧; 许俊; 任俊彦

来源：微电子学, 2007, (01): 80-84.

DOI：10.3969/j.issn.1004-3365.2007.01.020

• 模数转换器
• CMOS开关
• 自举采样
• 信噪失真比
• 无杂散动态范围
• 非线性失真

介绍了一种新型的CMOS自举采样电路。该电路适用于12位100 MHz采样频率的A/D转换器。采用P型栅压自举开关补偿技术,可以有效地克服采样管导通电阻变化引入的非线性失真,提高采样精度。仿真结果表明,采样时钟频率为100 MHz时,输入10 MHz信号,可得信噪失真比(SNDR)为102 dB,无杂散动态范围(SFDR)为103 dB。信号频率达到采样频率时,仍有超过85 dB的SNDR和87 dB的SFDR,满足高速高精度流水线A/D转换器对采样开关线性度和输入带宽的要求。电路采用SMIC 0.18μm CMOS数模混合工艺库实现,电源电压为1.8 V。

• 单位
  专用集成电路与系统国家重点实验室; 复旦大学