伴有暴力行为的精神分裂症患者皮质厚度和分形维数的分析

作者：李颖娜; 范丰梅; 冯志远; 梁文洲; 藏金生; 吕金库; 谭淑平; 杨甫德^*

来源：中华精神科杂志, 2020, 53(04).

• 精神分裂症
• 暴力
• 磁共振成像
• 皮质厚度与分形维数

目的应用结构磁共振成像技术、基于表面的形态学分析方法, 观察伴有暴力行为的精神分裂症患者皮质的结构改变, 探讨其神经病理生理机制。方法纳入符合ICD-10诊断标准的精神分裂症患者38?例。利用修订版外显攻击行为量表(Modified Overt Aggression Scale, MOAS)评分将患者分为暴力组和无暴力组。使用CAT12软件计算2组皮质厚度与分形维数, 组间比较采用双样本t检验;全脑的皮质厚度、分形维数分别与PANSS评分进行相关分析。结果暴力组(n=20)较无暴力组(n=18)左侧舌回(t=4.11, P=0.000 11)、岛回(t=3.48, P=0.000 66)、中央前回(t=3.52, P=0.000 60), 右侧的中央前回(t=3.94, P=0.000 18)、缘上回(t=3.72, P=0.000 34)、中央后回(t=3.72, P=0.000 34)及顶叶下回(t=3.64, P=0.000 43)的皮质厚度减低(顶点水平P<0.001, 未校正);暴力组皮质分形维数在左侧中央后回(t=3.86, P=0.000 23)增加, 右侧楔前叶(t=3.62, P=0.000 44)减低(顶点水平P<0.001, 未校正)。相关分析显示, 精神分裂症患者左侧中央后回皮质分形维数与PANSS一般病理评分(r=0.56, P=0.000 17)、总评分(r=0.53, P=0.000 40)均呈正相关;左侧梭状回皮质分形维数与PANSS总评分呈正相关(r=0.50, P=0.000 47);右侧顶叶上回(r=0.62, P=0.000 03)、顶叶下回(r=0.62, P=0.000 03)、中央后回(r=0.57, P=0.000 12)、颞下回(r=0.56, P=0.000 17)皮质分形维数与PANSS阴性评分均呈正相关。结论伴有暴力行为与无暴力行为的精神分裂症患者多个脑区的皮质厚度与分形维数存在差异, 提示伴有暴力行为的患者存在神经元密度与分布的异常, 这有助于观察精神分裂症患者疾病的进展过程。

• 单位
  北京回龙观医院