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摘要
本发明公开了基于超像素的柔性IC基板变色缺陷检测方法和装置,包括步骤：获取要检测变色缺陷的柔性IC基板源图像；对柔性IC基板源图像进行预处理；将分割之后得到的超像素图像输入能量函数判定柔性IC基板变色缺陷。本发明方法针对于要检测缺陷的柔性IC基板源图像,针对于预处理后提取ROI区域的图像,进行超像素图像的分割,以分割得到的超像素图像为基础,通过能量函数判定柔性IC基板变色缺陷,可以快速、准确以及全面的提取出柔性IC基板中的变色缺陷,避免由于变色缺陷位于边缘或者变色区域过大,导致变色缺陷误判的现象。
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单位华南理工大学; 广州现代产业技术研究院
