针对X射线荧光能谱测量过程中经常遇到的能谱漂移问题,探讨了基于状态转移的谱线漂移修正方法。采用隐MARKOV模型描述显性的瞬态特征和瞬态特征的隐性变迁过程,实现对谱线漂移过程的双重描述,使谱线形成的统计涨落过程与测量系统的特性变化过程统一在一个模型中,确保谱线的修正能紧密跟踪系统状态的变迁。根据离散化后瞬时状态间的变迁关系,利用瞬时能谱的变迁运算和线性叠加方法获得总能谱表达式。建立基于粒子群的HMM模型各状态参数的估计算法。实验验证结果表明:该方法能有效地修正X射线荧光能谱的漂移。
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