存储测试技术是获取装备产品飞行试验、安全性试验测试数据的重要手段。抗高冲击存储测试硬回收装置一般采用多层缓冲设计,为研究多层缓冲设计的防护效能,开展了多层防护结构与单层防护结构的过载及变形缓冲试验对比,结果表明,在相同外形尺寸约束条件下,多层防护结构可以显著降低过载峰值50%,核心器件上峰值应变可以降低20%-30%,防护效能明显。