用于裂变碎片质量测量的MCP和Au-Si SBD飞行时间探测系统

作者：孟庆华; 王涛峰; 朱丽萍; 王黎明; 韩洪银

来源：原子核物理评论, 2016, 33(04): 442-448.

• 微通道板
• 飞行时间法
• 质量测量
• 自发裂变

为了能很好地鉴别碎片质量,建立一个好的飞行时间测量方法是十分必要的。阐述了建立用于裂变碎片质量测量的微通道板(MCP)和金硅面垒探测器(SBD)飞行时间探测系统。对于80μg/cm2厚的碳膜,241Am的α粒子的探测效率约为39%,252Cf(sf)裂变碎片的探测效率约为98%。在动能为78 MeV条件下,对252Cf(sf)重裂变碎片(138～148 u)得到的时间分辨为(224.1±6.1)ps;在动能为102 MeV条件下,对252Cf(sf)轻裂变碎片(101～111 u),得到的时间分辨为(154.5±5.8)ps。

• 单位
  中国原子能科学研究院; 北京航空航天大学