本文采用玻璃-金属封接技术完成一种电气贯穿组件的结构设计,根据工艺特点针对导体、玻璃及外壳进行材料选型,采用有限元方法建立组件数值计算模型,基于此模型计算出组件在正常运行时的温度场分布,判定材料选择的合理性。同时,选取部分样件密封结构开展环境及力学类试验,验证了组件密封结构的可靠性;针对组件整体开展了热老化及辐照老化试验,试验验证了组件在长期高温、高压及高辐照剂量使用环境下具有良好的适应性。