FPGA中关于复位的设计和研究

作者:陈云; 陈恩耀; 刘国斌; 左丽丽; 刘伟
来源:数字技术与应用, 2018, 36(03): 182-184.
DOI:10.19695/j.cnki.cn12-1369.2018.03.90

摘要

复位设计是现场可编程门阵列(FPGA)设计中的一个关键步骤,设计不当可能会影响整个电路的性能,为了提升复位的稳定性和可靠性,本文从多方面对不同方式的复位进行了分析,总结了各自的优缺点,针对抑制亚稳态问题、局部复位设计和同一复位路径上复位的设计进行了讨论和研究,对复位设计中普遍存在的问题提出了可行性解决方案。

  • 单位
    上海航天电子技术研究所