随着科技的发展,信息技术设备小型化、高功率化、高效化、集成化程度越来越高,而这些变化使得信息技术设备内部电子器件更加密集,不得不增加箱体通风散热的比例,这样就加大了电磁能量泄露的风险。文章通过试验箱体的辐射骚扰发射研究不同孔洞之间对辐射骚扰发射的影响。
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