对电子元器件的失效机理分析

作者：冯继灵

来源：电子测试, 2017, (15): 120-121.

DOI：10.16520/j.cnki.1000-8519.2017.15.063

• 电子元器件
• 失效
• 机理 electronic components
• Failure
• mechanism

本文对电子元器件失效机理进行分析和探讨,旨在为元器件以及设备的检修提供理论支持。

• 单位
  广州海格通信集团股份有限公司