基于FPGA的OCTA NOR Flash存储芯片高效测试方法

作者:沈欣; 陈良权; 高敏*; 林媛
来源:微电子学与计算机, 2019, 36(10): 65-72.
DOI:10.19304/j.cnki.issn1000-7180.2019.10.013

摘要

针对OCTA NOR Flash的测试占用接口多,传统测试方法耗时较长的问题,提出了一种基于I/O口共用的OCTA NOR Flash高效测试系统及方法,以FPGA作为控制器,将测试指令传输给多颗Flash芯片,FPGA接收Flash芯片传回的数据后经过处理,可显示到相应的显示装置上.实际验证了系统的可行性.实际验证的结果表明,在测试过程中,数据传输稳定,无误码.